一种新型瓦记录磁盘的高可靠数据存储方法
2022-12-06 15:04:34   来源：    点击：

摘 要: 近年来，传统磁记录的存储密度增长已经达到极限，为了满足快速增长的数据容量需求，多种新型存储技术不断涌现，其中瓦记录(shingled magnetic recording,SMR)技术已实现商业化，在企业实际应用，由于瓦记录磁盘的叠瓦式结构、磁盘在随机写入时会引起写放大，造成磁盘性能下降，这一问题在部署传统的高可靠存储方案(如 RAID5)时会变得更加严重，原因在于校验数据更新频率很高、磁盘内出现大量的随机写请求。研究发现瓦记录内部其实存在具有原位更新能力的“可覆盖写磁道 (fee ack)”基于“可覆盖写磁道”，提出了一种专门针对瓦记录盘的高可靠数据存储方法 FT-RAID.以替代经典的 RAID5 方法、实现一种廉价、大容量、高可靠的存储系统，FT-RAID 包含两个部分:“可覆盖写磁道映射(FT-apping)”和“可覆盖写磁道缓冲区(ET- bufer)”FT-mapping实现了一种瓦记录友好的 RAID 映射方式，将频繁更新的校验块数据映射至“可覆盖写磁道”FT-buftel实现了一种瓦记录友好的两层缓冲区结构。上层确保了热数据能够原位更新，下层提高了缓冲区的容量.基于真实企业I/0 访问记录的实验结果表明，与传统 RAID 5 相比，FT-RAID 能够减少 80.4%的写放大率，显著提高存储系统整体性能.